تمكن فريق من الباحثين في معهد ماساتشوستس للتكنولوجيا (MIT) من اكتشاف تقنية جديدة أثناء سعيهم لتحسين أمان ومتانة المفاعلات النووية. هذه التقنية قد تمثل تحولًا كبيرًا في أداء رقائق الحواسيب والهواتف الذكية. فقد كانت تجاربهم الأصلية تهدف لدراسة تآكل المواد في البيئات القاسية داخل المفاعلات، وأسفرت عن نتيجة غير متوقعة تعزز من الفهم العلمي لتقنيات تصنيع الإلكترونيات.
أهمية الدراسة ونتائجها المفاجئة
نشرت الدراسة في مجلة Scripta Materialia، واهتمت باستخدام شعاع أشعة سينية مركزة لمحاكاة الإشعاعات الشديدة داخل المفاعل النووي. من خلال التجارب على النيكل، وهو أحد عناصر السبائك الشائعة في المفاعلات المتقدمة، اكتشف الباحثون إمكانية تعديل “الإجهاد” داخل بنية البلورة بدقة باستخدام شعاع الأشعة السينية. هذه النتيجة تمثل خطوة مهمة في تطوير الإلكترونيات الدقيقة، حيث يستخدم مهندسو تصنيع أشباه الموصلات تقنية تُعرف بـStrain Engineering لتحسين الأداء البصري والكهربائي.
تحقيقات إضافية وفوائد مستقبلية
بفضل هذا الاكتشاف، أصبح بالإمكان استخدام الأشعة السينية لضبط الإجهاد أثناء تصنيع المكونات الإلكترونية، مما يعكس قدرة هذا التطور على تحسين أداء الأجهزة. كما أوضح الباحث إيريك مور جوسو أن هذه التقنية تعطي “نتيجتان بسعر واحدة”. على جانب آخر، قدّم الفريق طريقة لمراقبة المواد ثلاثية الأبعاد في الوقت الحقيقي ضمن بيئة محاكاة المفاعل النووي، مما يفتح آفاقًا جديدة للبحث في المجالات النووية.
كما أشار الباحثون إلى أن التعرض الطويل للأشعة السينية يؤدي إلى تخفيف الإجهاد الداخلي للمواد، مما يتيح إعادة بناء البلورة بدقة أثناء تعرضها للإجهاد، وهو إنجاز لم يتم تسجيله سابقًا وفقًا لجوسو.
